» Duobla-trabo Cifereca Mezurilo Kun Cifereca Nombrilo
Cifera Alteco-Mezurilo
● Provizite kun ciferdisko kaj duciferaj nombriloj por pli preciza legado.
● Duobla trabo certigas pli altan mezuran precizecon.
● Unu nombrilo legas en la plusdirekto kaj la alia legas en la minusdirekto.
● Kun feedrado sur la dorso.
● Karbura pintita skribilo por akraj, puraj linioj.
● Ambaŭ nombriloj kaj ciferdisko povas esti nuligitaj ĉe ajna pozicio de skribilo.
● Bazo hardita, muelita kaj lapita por maksimuma plateco.
● Polvorezista ŝildo laŭvola.
Metriko
| Mezura Gamo | Diplomiĝo | Ordo Nr. |
| 0-300mm | 0.01mm | 860-0934 |
| 0-450mm | 0.01mm | 860-0935 |
| 0-500mm | 0.01mm | 860-0936 |
| 0-600mm | 0.01mm | 860-0937 |
Colo
| Mezura Gamo | Diplomiĝo | Ordo Nr. |
| 0-12" | 0.001" | 860-0938 |
| 0-18" | 0.001" | 860-0939 |
| 0-20" | 0.001" | 860-0940 |
| 0-24" | 0.001" | 860-0941 |
Metriko/Colo
| Mezura Gamo | Diplomiĝo | Ordo Nr. |
| 0-300mm/0-12" | 0.01mm/0.001" | 860-0942 |
| 0-450mm/0-18" | 0.01mm/0.001" | 860-0943 |
| 0-500mm/0-20" | 0.01mm/0.001" | 860-0944 |
| 0-600mm/0-24" | 0.01mm/0.001" | 860-0945 |
Moderna Precizeco kun la Cifera Alteco-Mezurilo
La Cifera Alteco-Mezurilo, nuntempa kaj preciza instrumento, daŭrigas la heredaĵon de precizaj altecaj mezuradoj en industriaj kaj inĝenieraj aplikoj. Ĉi tiu altnivela ilo, evoluanta el la tradicia Vernier Height Gauge, enkondukas ciferecan teknologion por plibonigita precizeco tra diversaj taskoj.
Noviga Konstruo
Desegnita kun fortika bazo kaj vertikale movebla mezurstango, la Cifera Alteco-Mezurilo ampleksas modernecon konservante fidindecon. La bazo, ofte kreita el daŭraj materialoj kiel neoksidebla ŝtalo aŭ hardita gisfero, certigas stabilecon, kritikan elementon por atingi precizajn mezurojn. La vertikale moviĝanta vergo, ekipita per fajna alĝustigo-mekanismo, glate glitas laŭ la gvida kolumno, faciligante zorgeman pozicion kontraŭ la laborpeco.
Cifereca Preciza Majstro
La elstara trajto de la Digit Height Gauge estas sia cifereca ekrano, teknologia salto de la tradicia vernier-skalo. Ĉi tiu cifereca interfaco disponigas rapidajn kaj precizajn legaĵojn, rajtigante uzantojn atingi senekzemplan nivelon de precizeco en altecaj mezuradoj. La cifereca ekrano permesas facilan interpreton kaj forigas eblajn erarojn asociitajn kun mana legado de pesiloj.
Multflankaj Aplikoj en Modernaj Industrioj
Ciferaj Alteco-Mezuriloj ludas decidajn rolojn en modernaj industrioj, inkluzive de metalprilaborado, maŝinado kaj kvalito-kontrolo. Vaste uzataj por taskoj kiel partaj dimensiokontroloj, maŝinaro kaj detalaj inspektadoj, ĉi tiuj mezuriloj kontribuas al konservado de precizeco en nuntempaj produktadaj procezoj. En maŝinado, la Cifera Alteco-Mezurilo pruvas valorega por determini ilaltojn, kontrolante ĵetkubojn kaj muldimensiojn, kaj helpi en la vicigo de maŝinaj komponantoj.
Noviga Metiado
Dum ĝi akceptas ciferecan novigon, la Cifera Alteco-Mezurilo subtenas sindevontigon al metio. Funkciistoj profitas de la efikeco kaj facileco de ciferecaj legaĵoj dum aprezas la precizecon kaj lertecon enigitan en ĝia dezajno. Ĉi tiu pionira dezajno igas la Cifera Alteco-Mezurilo preferatan elekton en laborejoj kaj medioj, kie oni taksas modernecon kaj efikajn mezurilojn.
Temp-Honorita Precizeco en Ciferecigita Epoko
La Cifera Alteco-Mezurilo perfekte integras laŭtempan precizecon kun cifereca teknologio. Ĝia kapablo liveri precizajn mezuradojn per cifereca interfaco, kunligita kun la daŭra metio eneca en ĝia dezajno, distingas ĝin en modernaj industrioj. En agordoj, kie kunfandiĝo de tradicio kaj avangarda precizeco estas ŝatata, la Cifera Alteco-Mezurilo staras kiel simbolo de novigado, enkarnigante nuntempan aliron por atingi precizajn altecmezuradon.
Avantaĝo De Wayleading
• Efika kaj Fidinda Servo;
• Bona Kvalito;
• Konkurenciva Prezo;
• OEM, ODM, OBM;
• Vasta Vario
• Rapida & Fidinda Livero
Paka Enhavo
1 x Cifera Alteco-Mezurilo
1 x Protekta Kazo
● Ĉu vi postulas OEM, OBM, ODM aŭ neŭtralan pakaĵon por viaj produktoj?
● Via kompanio nomo kaj kontaktinformoj por rapidaj kaj precizaj sugestoj.
Aldone, ni invitas vin peti specimenojn por kvalito-testado.
